条形波导芯片测试系统

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适用于光纤、光纤陈列和光波导等单芯或多芯器件的自动对准耦合及测试,如PLC光分路器条形芯片自动对光测试,AWG及WDM等芯片波导自动对光测试。

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  • 1,对准速度快,在同类设备中精度更高,重复性更好,稳定性极高;

  • 2,操作简单,所有工作步骤可在同一平台上完成;

  • 3,系统模块化构造,易于保养;

  • 4,高精度传感器,精确控制点胶间隙;

  • 5,观察系统部件由显微变焦镜头、CCD、监视器等组合而成的结构体,更易于操作;

  • 6,14轴电动滑块,客户可选择6轴电动滑块、7轴电动滑块、8轴电动滑块、9轴电动滑块及13轴电动滑块;

  • 7自动化程度高,64通道高速功率计、UVLED、驱动器集成在一个控制箱可有效的节约工位使用空间,使工位更简介、方便;

  • 8,正面和侧面两个USB接口高清CCD,图像更清晰,波导线条清晰可见

  • 9,根据客户需求,可定制设备不同解决方案。指标.jpg

    序号

    关键参数

    参数标准

    1

    光学平台

    350*500*50mm

    2

    耦合重复性

    0.05dB

    3

    自动耦合时间

    <5s(单颗粒)

    4

    耦合电动滑台精度

    <0.5um

    5

    产品类型

    1,可自动调整1分2到1分64及2分2到2分64等全系列产品;

    2,并可调整非标均分产品1分3、1分6及1分12等产品;

    3,可调整非均分产品1分5、1分9等产品。

    6

    高速光功率计

    测量稳定性±0.01dB,8通道、9通道、32通道或64通道,用户可选

    7

    ULED紫光灯

    波长365nm

    8

    PDL测试

    单波长PDL测试时间<1s

    9

    测试波长

    常用波长1270131015501650,用户可以选择。